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貼片電解電容又稱做多層片式陶瓷電容器,英文縮寫為MLCC。MLCC受到溫度沖擊時(shí),容易從焊端開(kāi)始產(chǎn)生裂紋。另外,在MLCC焊接過(guò)后的冷卻過(guò)程中,MLCC和PCB的膨脹系數(shù)不同,于是產(chǎn)生應(yīng)力,導(dǎo)致裂紋。要避免這個(gè)問(wèn)題,回流焊時(shí)需要有良好的焊接溫度曲線。
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大家都知道,IC芯片的封裝貼片式和雙列直插式之分。PCB上每一根走線都存在天線效應(yīng)。PCB上的每一個(gè)元件也存在天線效應(yīng),元件的導(dǎo)電部分越大,天線效應(yīng)越強(qiáng)。
同一裝置,貼片電容采用貼片元件比采用雙列直插元件更易通過(guò)EMC測(cè)試。此外,天線效應(yīng)還跟每個(gè)芯片的工作電流環(huán)路有關(guān)。要削弱天線效應(yīng),除了減小封裝尺寸,還應(yīng)盡量減小工作電流環(huán)路尺寸、降低工作頻率和di/dt。而從新型號(hào)的IC芯片(尤其是單片)的管腳布局發(fā)現(xiàn):它們大多拋棄了傳統(tǒng)方式——左下角為GND右上角為VCC,而將VCC和GND安排在相鄰位置,就是為了減小工作電流環(huán)路尺寸。